新科金朋(STATS ChipPAC)采購惠瑞捷(Verigy)Port Scale射頻(RF)測試解決方案，以測試高整合度的無線射頻元件。

　　Verigy V93000是一套可擴充的機臺架構，能用以測試系統單晶片(SoC)、系統級封裝(SIP)、以及高速記憶體元件。能解決業者在進行原速(At-speed)的工程特性量測或是大量生產測試的性能及成本上面臨的嚴苛挑戰。

　　Port Scale射頻測試解決方桉可為整合元件(內含射頻、溷合訊號、數位、電源管理、以及嵌入式或堆疊式記憶體等電路)，提供高效率的多元件(Multi- site)測試能力以及所需的測試埠數。這套測試系統可提供大規模的多元件測試能力，支援高達12.8Gbps的資料速率，以及各種數位、溷合訊號、射頻及無線通訊的應用，如蜂巢式通訊、WLAN、WiMAX及UWB等。