AdvanIDe發布Mifare克隆檢測工具
作者:RFID世界網編譯
                        來源:來源網絡(侵權刪)
                        日期:2013-07-01 08:23:27
                    摘要:RFID標簽和閱讀器的芯片供應商AdvanIDe公司,推出了一個工具包,旨在幫助應答器制造商、運輸運營商和其他廠商,檢查標簽或非接觸卡的芯片真實性,并確認是否已被克隆。
                    
                    
恩智浦的Pegoda II閱讀器
RFID標簽和閱讀器的芯片供應商AdvanIDe公司,推出了一個工具包,旨在幫助應答器制造商、運輸運營商和其他廠商,檢查標簽或非接觸卡的芯片真實性,并確認是否已被克隆。
NXP Mifare Classic 1K克隆檢測工具,包括恩智浦半導體的Mifare Pegoda II閱讀器(帶有一個SAM安全訪問模塊),以及額外的測試卡和軟件,可以驗證恩智浦Mifare Classic芯片的真實性。
根據AdvanIDe稱,如果IC已被克隆,它就會表現出性能不穩定,讀寫距離也會相對縮減,這兩者都會讓假芯片現出原形。
AdvanIDe的這套工具現售價250美元,包括閱讀器、USB線、光盤(包含AdvanIDe的獨創性檢查軟件和文檔),三張下一代Mifare Classic卡,和一個仿Mifare的樣卡。(RFID世界網編譯)
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