8月20日至8月22日期間，奧地利CISC半導體公司攜手中國區代理商深圳千兆科科技有限公司共同參加了在深圳會展中心舉辦的2015深圳國際物聯網與智慧中國博覽會，在會展期間成功展出了CISC Xplorer 200及NFC Xplorer 110測試系統。

　　CISC和千兆科在現場展示了Xploer 200優秀的UHF RFID標簽性能測試、一致性測試、監聽測試等高精度的測試功能，同時還給廣大觀眾介紹了UHF RFID標簽角靈敏度測試、讀寫內存測試、生產線測試及TIPP測試的方法，讓廣大UHF RFID標簽及讀寫器廠商大開眼界。

　　另一方面，作為隆重推出的NFC Xplorer 110主要側重于HF RFID的標簽性能(諧振頻率、最小激活場強及Q值等)及規范測試，特別是現今流行的NFC測試，覆蓋了ISO14443A/B、ISO15693和ISO18096等標準。同時CISC透露CISC的NFC interoperability即互通性測試系統已經獲得了Google公司的認可，確保Google公司手機擁有了高質量的NFC讀寫能力，同時多家手機生產商也開始向CISC公司咨詢相關測試系統及方法。

　　與會過程中，不少知名RFID芯片、標簽及讀寫器生產前來詢問相關產品技術問題，作為ISO/IEC 18000-63等多項標準的主要編輯人CISC CTO Josef先生在現場給予了詳盡的解答，同時在同期舉行的RFID大會中對如何利用測量設備進行有效的UHF RFID測試進行了精彩的演講，在會議現場獲得了陣陣響聲。