RFID技術作為物聯網技術的重要一環，在物品標識與數據采集方面有著十分重要的地位，隨著物聯網的蓬勃發展，RFID技術的測試需求正在經歷著深刻的變革。

緊跟行業趨勢，智網信測以匠心打造了下一代RFID綜合測試解決方案，為RFID技術的研發與應用提供強大助力。

RFID技術演進與測試挑戰

技術演進

1 無源反向散射通信的深度優化

新一代RFID采用無源反向散射通信，通過收發分離降低自干擾，使通信距離大幅提升；對反向散射信號的處理更加精細，可在復雜電磁環境中準確提取有用信號，具備更強抗干擾能力。

2 從單點到組網式架構

RFID 讀寫器的收發功能分離為激勵器和接收器，實現了前向鏈路與反向鏈路的解耦，支持組網部署，提升了系統效率和覆蓋范圍。

3  多技術融合與協同通信

采用全新的蜂窩式架構和協議，可以利用5G基站射頻信號作為能量源，實現廣域無源物聯網覆蓋；還可以結合超寬帶（UWB）反向散射技術，實現厘米級定位精度。

4 協議與標準全面升級

新一代 RFID 技術逐漸采用全球統一的標準協議，如 5G-A 無源物聯網采用 3GPP 標準。

測試新挑戰

然而，新一代RFID技術也為測試技術帶來諸多新挑戰。

1 性能測試方面

需要實現更低的檢測靈敏度，以應對自干擾消除難題；同時，要支持更大的系統接入容量，做好干擾協調。

2 一致性測試方面

不同標準的 RFID 設備進行一致性測試，增加了測試系統的復雜性；新一代 RFID 測試的復雜性，增加了自動測試系統的設計和開發面臨諸多挑戰，包括測試腳本的編寫、測試設備的控制和協同、測試結果的自動分析和判斷等。

3 互操作性方面

系統結構復雜、分布式激勵器以及多種激勵器模擬的引入，導致互操作性測試難度大幅上升；另一方面，全新的標簽讀取協議也增加了互操作測試的復雜性。

面對RFID技術的新特征與新挑戰，  

智網信測正式推出“下一代RFID綜合測試平臺”！  

綜合測試平臺架構

1 硬件架構設計

智網信測下一代RFID綜合測試平臺，采用全新硬件架構設計。

發射機模擬IQ信號及干擾自消除信號的產生；接收機完成IF信號采樣；時鐘發生及分配模塊，精準管理與分配系統參考時鐘，保障同步精度；采用Sync-E技術實現多主機同步；多激勵器外擴通過同步控制模塊實現，支持分布式拓撲與多制式同步。

2 軟件架構設計

測試應用層提供豐富服務，涵蓋RFID測試服務，通過調用測試接口，完成協議與硬件配置。RFID協議引擎可模擬讀卡器或標簽的協議行為，實時處理引擎則負責數字信號處理相關工作。

主要測試項目

測試場景

場景1：

模擬讀卡器測試-兼容MoBC

場景2

模擬標簽測試-支持外接負載調制或反向散射調制電路

場景3

BiBC/AmBC 模擬讀卡器測試

場景4

BiBC/AmBC 模擬標簽測試

場景5

協議嗅探器Sniffer-寬帶Power detector

總結

智網信測推出的下一代RFID綜合測試解決方案，具備創新的硬件架構、全面的軟件功能以及豐富的測試方案，能夠應對RFID技術演進與測試挑戰，滿足復雜場景下的測試應用，助力RFID技術在研發與生產環節的快速迭代，為物聯網產業發展提供堅實支撐。