產品詳情：

　　RFID綜合測試儀T8200UD是針對近場非接觸式IC卡、天線(基于ISO/IEC14443 Type A, Type B, ISO/IEC18092 Passive Mode即Type C索尼的Felica卡)，以及非接觸IC卡(ISO/15693Tag-It, I-CODE SLI), IC標簽的共振頻率，Q值和插入損耗(insertion loss)進行檢測，根據設定值判定待測物PASS/FAIL的設備。

　　檢測頻率： 500KHz ～ 300MHz

　　測定項目： 不同的制品，通過制作對應的檢測天線，可以檢查各式制品

　　○ 共振頻率 ○非接觸式IC卡

　　○ 衰減量 ○NFC搭載的制品

　　○ Q值 ○著裝芯片之前的RFID天線

　　通過設定各個待測項目的設定值進行檢測，并可以通過保存測量特性波形及測定值，管理RFID產品的品質。