唐領(lǐng)科技所承諾提供最好的產(chǎn)品給客戶，在今年初我們?yōu)椴粩嘧兓腞FID市場(chǎng)推出了了CISC RFID Xplorer – one hardware for all RFID testing 。一個(gè)獨(dú)立的Xplorer硬件即可測(cè)量標(biāo)簽性能(Xplorer tag performance tester)，也可以測(cè)量讀寫器靈敏度(Xplorer reader tester)，并且這個(gè)裝置(Xplorer Sniffer and Tag Emulator)能分析標(biāo)簽和讀寫器之間的射頻通信。另外同樣的硬件也可以用來(lái)對(duì)標(biāo)簽和讀寫器所要求的協(xié)議做預(yù)規(guī)范性測(cè)試(Xplorer conformance tester)。

　　在最近的更新我們?cè)赬plorer里加入了令人振奮的新功能，用于RAIN RFID、EPC Gen2V2和ISO/IEC 18000-63標(biāo)簽、讀寫器及應(yīng)用測(cè)試。如：

　　Field recorder(場(chǎng)強(qiáng)記錄儀)

　　這個(gè)場(chǎng)強(qiáng)記錄功能測(cè)量有效的RF場(chǎng)，并能確認(rèn)在特定的應(yīng)用環(huán)境中標(biāo)簽是否能被識(shí)別。因此，它可以測(cè)量隨時(shí)間變化的場(chǎng)強(qiáng)，從而了解運(yùn)動(dòng)中物體是否改變了反射導(dǎo)致更低或更高的RF場(chǎng)，這是導(dǎo)致漏標(biāo)簽或不期望的讀的典型原因。

　　Interference Analyzer (干擾分析儀)

　　干擾分析儀在800MHz到1GHz頻率范圍內(nèi)提供了干擾分析功能。用戶在測(cè)試標(biāo)簽和讀寫器前，可用它進(jìn)行快速測(cè)量來(lái)了解在哪些頻率范圍內(nèi)有RF干擾。當(dāng)在一個(gè)非受控RF測(cè)試環(huán)境中(即沒用電波暗室)，用CISC RFID Xplorer測(cè)量RFID讀寫器和標(biāo)簽性能時(shí)，這個(gè)工具也可以用來(lái)驗(yàn)證環(huán)境噪音干擾等級(jí)。干擾分析儀也可以展現(xiàn)其他讀寫器的狀況，幫助系統(tǒng)集成商進(jìn)行系統(tǒng)故障排查。

　　Advanced Sniffer and Protocol Analysis(先進(jìn)的監(jiān)聽器及協(xié)議分析)

　　這個(gè)功能讓用戶更深層次的分析通信，這個(gè)工具為用戶提供了RFID通信圖形化分析，如隨時(shí)間變化的Q值開發(fā)或標(biāo)簽響應(yīng)時(shí)間圖。通過這個(gè)工具，用戶可以清楚的了解在這個(gè)環(huán)境中哪個(gè)標(biāo)簽不回復(fù)。完整的綜合通信日志列出所有的指令和響應(yīng)用于更詳細(xì)的分析。

　　在Xplorer標(biāo)簽仿真器中使用多標(biāo)簽仿真模式，它能看到在10000個(gè)不同的標(biāo)簽(EPC、UII)的讀寫器和應(yīng)用的反應(yīng)。

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