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芯片測試
  • RFID標簽芯片的靈敏度是芯片剛剛被激活所需的最小能量。靈敏度是標簽芯片最重要的性能指標，它的大小直接影響RFID標簽的性能，例如標簽讀/寫距離等。因此標簽芯片靈敏度準確測試是芯片測試的重要內容之一。
  • 本文分析和設計了應用于超高頻無源射頻標簽的射頻接口電路，并利用0.18m工藝流片驗證。根據芯片測試結果，該射頻接口電路能夠在讀寫器4W等效發射功率下距讀寫器4m處為射頻標簽芯片提供足夠的工作電壓，并且在芯片近場時能夠有效地穩定電源電壓。解調信號基本正常可用。因此，該射頻接口電路可滿足超高頻遠距離無源射頻標簽芯片的要求，具有實用意義。
  • RFID標簽芯片的靈敏度是芯片剛剛被激活所需的最小能量。靈敏度是標簽芯片最重要的性能指標，它的大小直接影響RFID標簽的性能，例如標簽讀／寫距離等。因此標簽芯片靈敏度準確測試是芯片測試的重要內容之一。
  • 實現基于ISO14443A協議的13.56 MHz RFID芯片的設計，并在SMIC 0.18 μm工藝下流片，芯片測試結果良好。RFID芯片模擬前端部分在AC—DC電源產生部分采用了新的結構，不需要引入LDO就可以產生穩定的電源。在數據接收部分采用了新結構，可以抵御工藝偏差引起的器件參數的變化。在數據發送部分，從系統上作了優化，使模擬部分的電路變得簡單可靠。整個模擬部分的電流小于100μA.
  • 提出一種用于UHF無源RFID標簽芯片阻抗測試的新方法。利用ADS仿真軟件對測試原理進行了仿真并實際制作了測試板。利用設計的測試板對NXP_XM芯片和Impinj_Monza4芯片進行了測試，分析了誤差產生的原因，最終測試結果符合預期效果。
  • 相對簡單的存儲器和邏輯芯片測試以及比較復雜的混合信號和射頻／無線芯片測試的獨特測試要求。由此可見，對于不同類型芯片的測試，我們需要根據相應的要求采用不同的測試策略和測試方法。