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Omrom開發出新型UHF天線 可消除多路影響

作者:RFID世界網 Susan Zheng
來源:來源網絡(侵權刪)
日期:2007-03-04 11:43:28
摘要:歐姆龍昨日發布聲明,稱其已開發出一種新的UHF天線技術,可以通過控制讀寫器所發出電磁場信號的方向來大幅提高UHF閱讀器的讀取性能,提高讀取標簽距離和消除讀取范圍內的“盲區”。

歐姆龍昨日發布聲明,稱已開發出一種新的UHF天線技術,可以通過控制讀寫器所發出電磁場信號的方向來大幅提高UHF閱讀器的讀取性能,提高讀取標簽距離和消除讀取范圍內的“盲區”。

UHF頻段因為快速的標簽通訊速率和較遠的讀取距離而具有廣泛的應用潛力,然而,在實際應用中,UHF的“多路影響”效應常常抑制了系統的性能。所謂“多路影響”效應是由于讀寫器發射出來的電磁波在經過周圍環境物品的反射后疊加在目標信號上形成干擾,這會使減弱最終到達標簽上的有效電磁波信號。

為了解決這個問題,OMRON開發了一種新型 的天線技術,可以直接控制讀寫器發射出來的電磁波束的方向,這樣就可以避開環境或阻擋物的影響,以達到最好的效果。同時該天線還可以有效地消除傳統天線在工作磁場區內會形成磁場盲區的問題。

OMRON 計劃在各種不同的實際應用場合中測試該新型天線,并在2006財政年度的后期將該技術應用到RFID UHF讀寫器中。