CISC半導體公司開發了一套新的測評系統，設計該產品是為了幫助其它公司測試在運營中應用的RFID技術。　RFID測評＆評估測試系統（MeETS）目前已經面市，將幫助公司找出放置RFID應答器的最佳位置，并評估各種頻率以及不同應答器的識讀范圍。 

MeETS系統基于National Instruments的NI LabVIEW軟件，該軟件為設計、管理和測試應用提供繪圖開發環境；MeETS系統也基于PXI硬件，一開放的，供測試、測評和管理的PC平臺。 CISC RFID MeETS目前推出三種版本：適用于LabVIEW的CISC RFID MeETS、CISC RFID MeETS配置NI PXI硬件以及CICS推薦給實驗室或研究測試中心的完整軟硬件裝置。 

據該公司表示，CISC RFID MeETS的開發是遵循ISO認可和EPCglobal推薦的標準。