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CISC RFID Xplorer增加可進行tagged-item測試功能

作者:CISC 供稿
來源:來源網絡(侵權刪)
日期:2015-03-30 16:07:42
摘要:日前,記者從CISC獲悉, CISC RFID Xplorer已經可以進行基于由GS1 標記項目性能協議” (TIPP) 指南定義的“tagged-item test procedure”測試測量。這個測試是用于tagged-Item達到特定的等級而設的一個標準。
關鍵詞:CISCRFID測試

  日前,記者從CISC獲悉, CISC RFID Xplorer已經可以進行基于由GS1 標記項目性能協議” (TIPP) 指南定義的“tagged-item test procedure”測試測量。這個測試是用于tagged-Item達到特定的等級而設的一個標準。

  Klagenfurt (Austria), Mountain View CA (USA) – 24th February, 2015: 隨著GS1標記項目性能協議公布,CISC導入TIPP擴展了CISC RFID Xplorer RFID測試測量產品的功能。Xplorer根據由GS1 “標記項目性能協議” (TIPP) 指南定義的“tagged-item test procedure”來進行測試測量。TIPP指南提供了一個標準,意味著在零售環境中表現出性能的要求及一個標準測試協議來驗證一個標記項目的性能。

  CISC RFID Xplorer可跟據GS1標記項目性能協議(TIPP)被配置成一臺Tagged Item性能測試儀。在這個模式下,Xplorer提供了一個快速開關切換到4個線性天線。隨著CISC旋轉測試平臺,標簽項目讀取和反向散射靈敏度在3D環境中不同的角度下被測試。結果的準確性是由Xplorer的自我校準及可選的根據ISO/IEC 17025可溯源校準(這須在獨立認證測試實驗室完成)而定。

  CISC RFID Xplorer提供高傳輸功率4W EIRP和優越的-90dBm的接收靈敏度,這非常適合于進行很難讀取的標簽項目測試,如包含了液體或金屬的。通過拓展內存測試和提供加密功能,Xplorer已經滿足讀卡器和標簽之間隱私及安全數據傳輸的測試要求。

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