8月16日，2017第12屆RFID世界應(yīng)用創(chuàng)新大會(huì)在深圳會(huì)展中心隆重舉辦。本次大會(huì)共邀請(qǐng)了300余家RFID行業(yè)產(chǎn)業(yè)鏈各環(huán)節(jié)的優(yōu)秀企業(yè)、行業(yè)權(quán)威專家、RFID終端用戶代表共同參與，剖析行業(yè)發(fā)展方向，共同探索行業(yè)發(fā)展新模式。在本次大會(huì)上，深圳市唐領(lǐng)科技有限公司營(yíng)銷總監(jiān)羅海濤先生以《RFID系統(tǒng)級(jí)測(cè)試探秘》為主題，與會(huì)場(chǎng)觀眾進(jìn)行了精彩的演講。

深圳市唐領(lǐng)科技有限公司營(yíng)銷總監(jiān)羅海濤先生

　　RFID標(biāo)簽是由RFID天線與RFID芯片構(gòu)成的，而RFID標(biāo)簽和讀寫(xiě)器就構(gòu)成了整個(gè)RFID系統(tǒng)。在RFID測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)里面，RFID標(biāo)簽和讀寫(xiě)器的測(cè)試有規(guī)范性測(cè)試(包括時(shí)序、波頻、頻譜等)和性能測(cè)試(包括反向功率、讀距、反向距離等)，RFID系統(tǒng)則包括效率測(cè)試和互操做性測(cè)試。

　　傳統(tǒng)的RFID測(cè)試方式，首先在天線上，使用網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)去測(cè)試是沒(méi)辦法測(cè)試出功率等級(jí)的變換，其次是不能接收讀寫(xiě)器發(fā)出不同指令的能量，同時(shí)當(dāng)天線和芯片匹配在一起時(shí)，會(huì)發(fā)生輸入阻抗的變化。其次在協(xié)議上，使用頻譜分析儀去測(cè)試，但在標(biāo)簽性能如激活功率、讀取范圍，讀寫(xiě)器接收靈敏度、讀寫(xiě)器和標(biāo)簽仿真等問(wèn)題都沒(méi)辦法測(cè)試。而如果使用矢量信號(hào)源+示波器+頻譜分析儀+軟件等方式去測(cè)試，不僅程序復(fù)雜而且價(jià)格也很高。

　　為此，羅總在會(huì)上一一介紹了RFID在標(biāo)簽及標(biāo)簽芯片、讀寫(xiě)器、系統(tǒng)的各種測(cè)試方式。

　　標(biāo)簽及標(biāo)簽芯片的測(cè)試方式，一是性能測(cè)試，它會(huì)涉及到校準(zhǔn)及環(huán)境、激活功率、反向功率等，當(dāng)測(cè)試所選擇的天線、指令(Query, Read EPC)、發(fā)射功率設(shè)置及擺放位置的不同，也會(huì)導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果的不相同。二是方向性測(cè)試，不同角度的標(biāo)簽導(dǎo)致其性能差別很大。除此之外，還有全自動(dòng)規(guī)范性測(cè)試生成測(cè)試報(bào)告，當(dāng)通過(guò)自動(dòng)化規(guī)范性測(cè)試軟件了解到不合格的項(xiàng)目之后，針對(duì)不合格的項(xiàng)目可以對(duì)具體的波形、時(shí)序、頻譜進(jìn)行分析，標(biāo)簽存取測(cè)試如讀/寫(xiě)內(nèi)存測(cè)試等，快速了解標(biāo)簽或標(biāo)簽芯片存在的規(guī)范性問(wèn)題。

　　接著在讀寫(xiě)器的測(cè)試方式，在性能測(cè)試上，獨(dú)立標(biāo)簽測(cè)試需要標(biāo)簽回復(fù)(仿真標(biāo)簽)去確認(rèn)讀寫(xiě)器可以識(shí)別的標(biāo)簽的響應(yīng)，并且讀寫(xiě)器可以改變標(biāo)簽的參數(shù)變量如 BLF變量(反向鏈路頻率)和占空比變量等，最后會(huì)呈現(xiàn)出可以支持頻率和整個(gè)功率范圍的讀寫(xiě)器性能。而在規(guī)范性測(cè)試上，通過(guò)仿真標(biāo)簽及Rx天線接收來(lái)自讀寫(xiě)器的信號(hào)，可以分析每個(gè)指令的內(nèi)容、波形、時(shí)序等，且可以設(shè)置指令觸發(fā)并長(zhǎng)時(shí)間記錄數(shù)據(jù)流。

讀寫(xiě)器接收靈敏度及讀取成功率

　　RFID系統(tǒng)測(cè)試方式，其系統(tǒng)性能依賴于標(biāo)簽性能、讀寫(xiě)器性能和協(xié)議設(shè)置和軟件這幾方面。系統(tǒng)測(cè)試需要獲得相關(guān)的信息，如標(biāo)簽與讀寫(xiě)器之間通信的實(shí)際內(nèi)容，需要讀寫(xiě)器指令及標(biāo)簽響應(yīng)時(shí)序、指令去觸發(fā)分析;通信內(nèi)容統(tǒng)計(jì)需要Q值、響應(yīng)次數(shù)、沖突次數(shù)等去讀取標(biāo)簽次數(shù)并進(jìn)行指令統(tǒng)計(jì)。

　　羅總表示，CISC提供完整的RFID測(cè)試方案，該方案包括了標(biāo)簽性能測(cè)試系統(tǒng)、標(biāo)簽方向性測(cè)試系統(tǒng)、標(biāo)簽規(guī)范性測(cè)試系統(tǒng)(自動(dòng)化及手動(dòng))、讀寫(xiě)器性能測(cè)試系統(tǒng)、標(biāo)簽仿真及監(jiān)聽(tīng)測(cè)試系統(tǒng)、通信分析及場(chǎng)強(qiáng)記錄系統(tǒng)以及TIPP等。