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測試技術
  • 近日，全球RFID和NFC測試系統佼佼者CISC Semiconductor GmbH（以下簡稱 “CISC”）宣布，憑借其尖端的測試技術與深厚的行業積淀，被高通技術公司選中，共同開發世界上第一個集成超高RFID讀取功能的企業移動處理器，為邊緣智能決策與行業數字化升級開辟全新路徑。
    11/18
  • 近日，Impinj對外宣稱正式收購Voyantic。據悉，在收購完成后，Impinj計劃將Voyantic的測試技術融入其現有的RFID工具和解決方案中，這將使Impinj能夠提供更全面的RFID產品和服務，滿足客戶的不同需求。
    05/23
  • 甘泉老師花費數年之功，撰寫的新書《物聯網UHF RFID技術、產品及應用》正式出版發布，本書對UHF RFID最新的技術、產品與市場應用進行了系統性的闡述，干貨滿滿！RFID世界網得到了甘泉老師獨家授權，在RFID世界網公眾號特設專欄，陸續發布本書內容。
    06/21
  • 記者從WAPI產業聯盟獲悉，我國自主研發的一項物聯網安全測試技術(TRAIS-P TEST)日前由國際標準化組織/國際電工委員會(ISO/IEC)發布成為國際標準。
    12/09
  • 2017第12屆RFID世界應用創新大會將于8月16日正式舉行，本次大會將結合最新的RFID行業技術成果，匯聚各路精英，進行深度的研討交流。據悉，深圳市唐領科技有限公司營銷總監羅海濤先生將以《RFID系統級測試探秘》為題，跟與會嘉賓共同探討RFID系統測試技術。
    07/28
  • CISC公司宣布推出標簽測試儀器RFID Xplorer，可用于測試RAIN RFID標簽的性能及一致性。該系統為世界各地的檢測標準提供了測試技術，同時提供了一種方法來描述不同標簽的物理屬性。
    07/05
  • 今年正值PXI技術誕生20周年之際，由NI(美國國家儀器，National Instruments，簡稱“NI”)公司主辦的PXI TAC 2017近日在深圳隆重召開。作為業界最具影響力的PXI專業論壇，PXI TAC 已經連續舉辦14年，這次PXI TAC回歸本質，以用戶為核心，聚焦用戶應用，讓用戶看到最前沿的智能測試技術和趨勢，以及在熱點應用上的方向。
    05/24
  • 近幾年，RFID技術及應用在全球范圍內快速增長，而RFID及NFC等技術被譽為物聯網系統的“First meter”，RFID及NFC產業的快速發展推動著物聯網產業的迅速落地。2016年7月12日，奧地利CISC半導體公司與深圳千兆科科技有限公司在深圳格蘭云天大酒店聯合舉辦了一場面向專業人士的RFID測試技術交流研討會。
    07/14
  • 奧地利CISC半導體公司與深圳市千兆科科技有限公司在中國首次舉辦RFID測試技術交流研討會，誠摯的邀請您及您同事、朋友參加我們的RFID技術交流研討會。
    06/27
  • “隨著家庭健康的理念深入人心，家用電器已經進入以健康、品質、智能為主要特點的新時代。”在6月16日舉辦的以“智能空調技術創新對話”為主題的智享沙龍上，中國家用電器研究院測試技術研究所所長魯建國發表了對當下家電產品升級的看法。會上海爾作為優秀企業代表被邀請演示了空調自清潔創新功能，并被授予“智能空調創新引領獎”。
    06/17
  • 9月20日，由中國通信學會主辦，美國國家儀器（NI）有限公司、中國通信學會學術工作委員會、物聯網委員會、信息通信測試技術委員會、東北大學流程工業綜合自動化國家重點實驗室、江蘇省物聯網技術與應用協同創新中心聯合承辦的“2015全國互聯網+工業制造高峰論壇”在南京郵電大學物聯網國家大學科技園隆重召開。
    09/24
  • 5月23日，由中國家用電器研究院主辦，中國家用電器研究院測試技術研究所、家電科技雜志社承辦的首屆室內空氣凈化器除菌、凈化認證活動在北京舉行。此次大會對目前市面上的空氣凈化器性能包括抗菌、除菌、凈化等方面的測評結果進行了總結，并公布了首批獲得CQC認證的品牌，作為首度涉足該產品領域的海爾位列其中。
    05/26
  • 2013年是SGS電子實驗室嶄新開創的一年，除了在林口設立了新的華亞實驗室，擴充了EMC&RF的版圖、并持續增設OTA/SAR等相關設備之外，SGS邀您一同乘坐最新測試技術的列車，呈現給各位專業的MIMO OTA、NFC及WPC測試服務。
    07/24
  • 近日，重慶市教委在綦江區南川中學召開了“重慶市中考英語聽說智能測試試點工作會”，科大訊飛作為英語聽說智能測試技術提供商應邀參加會議
    12/25
  • 跨多重電子應用領域、全球領先的半導體供應商意法半導體（STMicroelectronics，簡稱ST；紐約證券交易所代碼：STM）宣布，全球首款未使用任何接觸式探針完成裸片全部測試的半導體晶圓研制成功。
    12/30