提出一種測試UHF頻段無源RFID標簽芯片靈敏度的方法。該方法依據矢量網絡分析儀和標簽測試儀接口特性阻抗相同的特性,利用矢量網絡分析儀測試標簽芯片的反射系數,然后通過標簽測試儀測試芯片和儀器接口的匹配損耗,進而計算標簽芯片的靈敏度。利用該方法對NXP_G2XM芯片和ImPINj_Monza3芯片在800~1 000 MHz頻段內靈敏度進行測試,并將測試結果與datasheet進行對照,分析誤差產生的原因,最終證明此方法的準確性。該測試方法采用常規儀器對800~1 000 MHz頻段內靈敏度進行測試,有重要實際意義。