奧地利設計和咨詢服務公司CISC半導體宣布更新其CISC RFID Xplorer系統，以增強對超高頻(UHF)射頻識別標簽的性能測試。

　　Xplorer測試系統于2012年4月首次公布，采用便攜式設計，是一套結構緊湊的解決方案。公司稱，這還是一套低成本的RFID標簽靈敏度測試系統，小而強，可對通信距離和后向散射進行精確測量。

　　新版本的名稱為Xplorer 200，擴展了對內存讀寫和加密碼套件的測試，完全支持EPCglobal和ISO / IEC標準。

　　Xplorer 200將在RFID Journal LIVE! Brasil(11月6-7日，圣保羅)上亮相，特別針對了巴西RFID測試標準定制開發，如SINIAV, ARTESP和Brasil ID。

　　公司稱，Xplorer可以用來衡量單個的標簽性能，也可以同時進行多個標簽的完整分析。

　　CISC RFID Xplorer的外形大小僅為160*205*50毫米(6.3*8.1*2英寸)，方便攜帶、拆卸和安裝，可以在幾分鐘之內操作完成。

　　設備的工作在800 MHz到1 GHz的頻率范圍，RFID世界網加上一臺匹配的計算機來運行Xplorer軟件，對每個頻率的占用時間小于1秒，測試速度快。

　　在讀寫器的性能和一致性測試過程中，信號實時傳輸沒有記錄時間限制。

　　Xplorer是專為戶外測試開發，可以是便攜式或固定式的RF試驗室或RF控制環境的測量解決方案。

　　該系統提供了軟件和自校準參考標簽。

　　測試設備使用的圖形用戶界面(GUI)控制，帶有一個額外的應用程序編程接口(API)，在標準的開發環境下，用戶可自定義測試序列。(RFID世界網編譯)

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