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【IOTE 上海秀】專業從事測試測量儀器研發服務,聚星儀器將精彩亮相IOTE2021上海物聯網展會

作者:物聯傳媒
日期:2020-12-31 14:45:52
摘要:明年春暖花開,我們相約魔都!IOTE 2021第十五屆國際物聯網展·上海站將于2021年4月21-23日在上海世博展覽館開展!屆時,上海聚星儀器有限公司(簡稱:聚星儀器)將為我們帶來RFID測試儀器的精彩展示。

明年春暖花開,我們相約魔都!IOTE 2021第十五屆國際物聯網展·上海站將于2021年4月21-23日在上海世博展覽館開展!屆時,上海聚星儀器有限公司(簡稱:聚星儀器)將為我們帶來RFID測試儀器的精彩展示。



上海聚星儀器有限公司

展位號:3A36

上海世博展覽館

2021年4月21-23日

公司簡介

聚星儀器是一家專業從事測試測量儀器研發服務、提供定制測試測量與控制儀器系統的高新技術企業。在RFID測試領域深耕多年,是EPCGlobal、NFCForum、Dash7 Alliance等國際標準協會會員。近場無線測試系統獲得NFC射頻認證測試儀器資質:RFID測試儀獲得ISO18000-7認證測試儀器資質。聚星還參與了空口協議、測試標準、800/900MHz、2.45GHz的國際和國內標準制定。

特色產品推介



RFID快速應用測試系統 JXI-R1120

RFID快速測試系統是一款基于TXI總線與軟件無線電技術的多功能RFID測試系統。應用于UHF標簽靈敏度測試與RFID現場分析。



電子標簽全性能測試系統 JXI-R1220

超高頻RFID電子標簽全性能測試系統基于PXI矢量射頻模塊和 FPGA基帶模塊,集成了自主研發的RFID測試軟件,具有內建的RFID協議棧,能夠實時發射并采集RFID通訊的射頻信號,進行完整的性能參數的測試與分析。本測試系統結合了先進的模塊化儀器和軟件無線電技術,具有軟件自定義的特點,支持的超高頻標準包括:ISO/IEC 18000-63(18000-6C)、EPC UHF C1G2、GS1 TIPP、GB/T 29768、GJB 7377.1,而且只需要通過軟件升級的方式,就可以支持其他標準的產品測試。



射頻識別綜合測試系統 JXI-R1200

射頻識別綜合測試儀基于PXI矢量射頻模塊和FPGA核心的中頻模塊,具有內建的RFID協議棧,能夠實時發射并采集RFID通訊的射頻信號,進行完整的射頻參數及協議參數的分析測試。針對RFID閱讀器,標簽或系統測試的不同需求,本測試儀可配置為閱讀器模擬器,標簽模擬器,信號監聽器等不同的測試模式。



RFID閱讀器測試系統JXI-R1110

RFID閱讀器測試系統主要用于高頻和超高頻閱讀器的符合性與性能測試。系統模擬標簽的行為與被測閱讀器進行應答,同時獲取應答過程中的波形與通信數據,實現對射頻參數與協議參數的測量。系統支持標簽模擬器響應功率的自動調節與測量,可以快速測量閱讀器接收靈敏度。RFID閱讀器測試的典型應用包括身份證閱讀器測試、電子車牌閱讀器測試等。

更多有關聚星儀器的RFID測試儀器,盡在IOTE 2021第十五屆國際物聯網展·上海站,歡迎大家親臨上海世博展覽館展臺號3A36。